什么是方块电阻 蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等薄膜状导电材料， 蒸发铝膜、导电漆膜、印制电路板铜箔膜等薄膜状导电材料，衡量它们厚 度的最好方法就是测试它们的方阻。什么是方阻呢？方阻就是方块电阻， 度的最好方法就是测试它们的方阻。什么是方阻呢？方阻就是方块电阻，指一 个正方形的薄膜导电材料边到边“ 间的电阻，如图一所示， 个正方形的薄膜导电材料边到边“之”间的电阻，如图一所示，即 B 边到 C 边 的电阻值。方块电阻有一个特性， 的电阻值。方块电阻有一个特性，即任意大小的正方形边到边的电阻都是一样 它们的方阻都是一样， 的，不管边长是 1 米还是 0.1 米，它们的方阻都是一样，这样方阻仅与导电膜 的厚度等因素有关。 的厚度等因素有关。 方块电阻如何测试呢，可不可以用万用表电阻档直接测试图一所示的材料 方块电阻如何测试呢， 不可以的，因万用表的表笔只能测试点到点之间的电阻，而这个点到点之 呢？不可以的，因万用表的表笔只能测试点到点之间的电阻，而这个点到点之 间的电阻不表示任何意义。如要测试方阻， 间的电阻不表示任何意义。如要测试方阻，首先我们需要在 A 边和 B 边各压上 电阻比导电膜电阻小得多的圆铜棒， 一个电阻比导电膜电阻小得多的圆铜棒 而且这个圆铜棒光洁度要高， 一个电阻比导电膜电阻小得多的圆铜棒，而且这个圆铜棒光洁度要高，以便和 导电膜接触良好。
导电膜接触良好。这样我们就可以通过用万用表测试两铜棒之间的电阻来测出导电薄膜材料 的方阻。如果方阻值比较小，如在几个欧姆以下， 的方阻。如果方阻值比较小，如在几个欧姆以下，因为存在接触电阻以及万用 表本身性能等因素，用万用表测试就会存在读数不稳和测不准的情况。 表本身性能等因素，用万用表测试就会存在读数不稳和测不准的情况。这时就 需要用专门的用四端测试的低电阻测试仪器 如毫欧计、微欧仪等。 四端测试的低电阻测试仪器， 需要用专门的用四端测试的低电阻测试仪器，如毫欧计、微欧仪等。测试方法 如下：用四根光洁的圆铜棒压在导电薄膜上，如图二所示。 如下：用四根光洁的圆铜棒压在导电薄膜上，如图二所示。四根铜棒用 A、B、C、 表示，它们上面焊有导线接到毫欧计上， D 表示，它们上面焊有导线接到毫欧计上，我们使 BC 之间的距离 L 等于导电薄 膜的宽度 W，至于 AB、CD 之间的距离没有要求，一般在 10--20mm 就可以了，接 AB、 之间的距离没有要求， 10--20mm 就可以了， -通毫欧计以后，毫欧计显示的阻值就是材料的方阻值。这种测试方法的优点是： 通毫欧计以后，毫欧计显示的阻值就是材料的方阻值。
这种测试方法的优点是： 用这种方法毫欧计可以测试到几百毫欧，几十毫欧，甚至更小的方阻值， （1）用这种方法毫欧计可以测试到几百毫欧，几十毫欧，甚至更小的方阻值， 由于采用四端测试，铜棒和导电膜之间的接触电阻， （2）由于采用四端测试，铜棒和导电膜之间的接触电阻，铜棒到仪器的引线电 即使比被测电阻大也不会影响测试精度。（ 测试精度高。 。（3 阻，即使比被测电阻大也不会影响测试精度。（3）测试精度高。由于毫欧计等 仪器的精度很高， 仪器的精度很高，方阻的测试精度主要由膜宽 W 和导电棒 BC 之间的距离 L 的机 械精度决定，由于尺寸比较大，这个机械精度可以做得比较高。在实际操作时， 械精度决定，由于尺寸比较大，这个机械精度可以做得比较高。在实际操作时， 为了提高测试精度和为了测试长条状材料， 不一定相等， 为了提高测试精度和为了测试长条状材料，W 和 L 不一定相等，可以使 L 比 W 大 很多，此时方阻 为毫欧计读数。此方法虽然精度比较高， 很多，此时方阻 Rs=Rx*W/L,Rx 为毫欧计读数。此方法虽然精度比较高，但比较 麻烦，尤其在导电薄膜材料比较大，形状不整齐时，很难测试， 麻烦，尤其在导电薄膜材料比较大，形状不整齐时，很难测试，这时就需要用 专用的四探针探头来测试材料的方阻，如图三所示。
