数字万用表二极管档测试原理与使用方法 【doc】数字万用表二极管档测试原理与使用方法

模拟式万用表(俗称指针式万用表)的电阻档专门另设用于测试二极管的档位——二极管测试档 能够方便地用于半导体元件性能的鉴别,但数字万(简称二极管档)。 用表的电阻档则无能为力。究其原田,主要是数字 万用表电阻档所能提供的溯试电流太小,就常用的2 二极管档测试工作原理 DT830 型(以下均以此型为例)而言,它的'20kt~该档位电路见图 所示,它是在200mV 基本 档不大于7,5A,而20MF~档仅仅只有75nA。由表基础上扩展而成的,+2。8V 的集成 电路内部基准 于半导体元件具有非线性特性,其PN 结的正,反电压由"V+"端(】c脚)引出,经过 电阻R17,R 电阻与通过其中测试电流的大小密切相关,以如此 洒试电说。在被二极管未接。,之微弱的测试电流测试元件的正,反问电阻,其工作前,分压电路 A。B 两点的电压分 别为 =((274+~0,1}/(1+0。47+0,5-t-27443~。1))vF R19 24k R48 4-7k 36ElCVO161999N0。6 敢迎订阅欢迎撰稿欢迎发布产品广告信息 2。8 =2782fV) VB=(R15/(R17+R16+Rt+R14+R15))V+ =f30。

1/(1+0。47+05+274+30。1)】28 =275[V) 集成电路7106 当前的输八电压为V=VB= 0。275V=275mV。 极管档测量市电电压(AC220V)时,电流途经为R。 RlQ1一Q2,Q 此刻为正向导通,而Ql 则立刻 反向击穿,起到了限幅保护作用。与此同时,R 流过较大的电流而迅速发热其电阻值将随体温升高而急尉增大,由于限制了流过Q1 与Q2 的电流, 从而保护了Q】Q2 的安全。 由于该值超出了基本表电压量程200mV,所3 显示屏读数成为溢出状态(显示1")。 当被测二极曾VDx 接八电路之后,A 点电压 由2。782V 被箝位到二极管的正向压降VF(硅管为 07V 左右。锗管为0。3V 左右),而此时集成电路 7106 的输入电压变为 V『N=(R15/(Ri4+Ris)jVF =【30。1/(274+30。1)】VF0。1VF 由此可见,在集成电路输入端,V 被衰减了10 倍,这相当于将200mV 的基本表扩展到了2V 在此期间,通过被测二极管的测试电流为IF(硅管)(V+一vF),(R1RI6+Rt) (28—0。7),(1+0。47+05)=1066mA IF(锗管)(V+一V)/(R7+R16+Rt】 (2。

8—0。3)/(1+47+0_5)=1。296rnA 艟然,二极管档的测试电流比起电阻档至少要 大一个数量级,比值基本上能够捕足大多数半导体 二报管和三极管对其PN 结单向导电眭的测试判别 要求= 基准电压VREF 由集成电路内部基准电压源 (+2。8v)经RI8,Rl9,RP3,RR48 调电阻RP1的电压调整范围为951-1073m 通过适当调节RP1 的滑臂动位置,便可获得基准 电压VREF=100OmV。 C8 和R29,R 删基准电压输入端高频滤波电 Qi,Q2和R[,RI6 组成测试端口过压保护电 为正温度系数的热敏电阻PTC,晶体三极管QI 和的集电结分别短接后,又将两者反极性串 联起来,利用其发射结的稳压原理,用于抑制测试 端口异常情况下的高电压侵扰。例如,如果误用二 二极管档测试撵作方法 (1)将红表棒插入V-n"插孔,黑表捧插 入公共插孔COM"。 置量程开关(也称功能选择开关)予二撅管 测试档,该档位上通常印有二极管符号标志 固将电源开关拨至闭合状态"ON"。红表棒接被测二极管正极数字万用表二极管档测试原理与使用方法,黑表捧接负极 此时管于应当处于正向导通状态,显示值即为正向 压降,完好管子的正向压降为:硅管0。


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